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LaiPen LP100叶面积指数测量仪

用途:LaiPen LP 110用于测量阔叶冠层的叶面积指数(Leaf Area Index,LAI)。叶面积指数是指单位土地面积上植物叶片总面积占土地面积的倍数。即:叶面积指数=叶片总面积/土地面积。 测量原理:LaiPen LP 110使用广角光学传感器计...

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TRAC PLUS植物冠层分析仪

用途:叶面积指数(LAI)是在生态学与气候学中是重要的生物物理参数,在生态学及气候学领域中有着广泛的应用。TRAC PLUS植物冠层分析仪采用独特的创新技术,在冠层下方沿着横断面测定光合有效辐射分量,然后将之转换为林隙分布分数,从而计算出叶面积指数等其它参数。...

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SunScan无线电版植物冠层分析仪

用途:SunScan无线电版植物冠层分析仪是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射(PAR)的系统,提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。SunScan冠层分析系统不需要等待特殊的天气条件进行使用,可以在大多数光...

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SunScan标准版植物冠层分析仪

用途:SunScan标准版植物冠层分析仪是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射(PAR)的系统,提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。SunScan冠层分析系统不需要等待特殊的天气条件进行使用,可以在大多数光照...

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HemiView数字植物冠层分析系统

用途:HemiView数字植物冠层分析系统通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息,能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况...

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SunScan专业版植物冠层分析仪

用途:SunScan专业版冠层分析仪是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射(PAR)的系统,提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。SunScan冠层分析系统不需要等待特殊的天气条件进行使用,可以在大多数光照条件...

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